日本SAN-EI 50mm*50mm雙光太陽光模擬器

日本SAN-EI 50mm*50mm雙光太陽光模擬器

日本SAN-EI 50mm*50mm雙光太陽光模擬器,又稱雙光源超AA*太陽光模擬器，交付日本產業綜合技術研究所AIST使用；該設備采用雙燈高精密光學設計，光譜不匹配性優于5%，更加接近AM1.5G標準太陽光光譜，在很大程度上避免了光譜失配對測試結果的影響，而且有效光譜范圍300nm~1800nm，為深層次太陽能電池計量測試、研究和研發新一代太陽能電池提供有效手段；對于準確測量單結，疊層，多結等高校太陽能電池光電特性尤為重要。

  可廣泛應用于各種太陽能電池的測試：

  非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)

  微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)

  半導體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]

  燃料敏化電池(DSSC)

  有機導電高分子(Organic/polymer solar cells)

  CIGS (銅銦硒化物)等，尤其是對于薄膜多結太陽能電池測試；OPV有機太陽能電池、PVK鈣鈦礦太陽能電池、DSSC燃料敏化電池、量子點太陽能電池、有機無機雜化太陽能電池等等。還可應用于材料、化學、能源等領域的實驗中。

技術參數： AM1.5G *光譜 & AM0高匹配光譜！

匹配標準的太陽能模擬器（超AA*），太陽光模擬器（超AA*），Super AAA Class Solar Simulator；太陽能電池IV測試儀，量子效率，光譜響應及IPCE測量系統；
  1.采用雙光源混合燈體設計；
  2.有效照光面積：2inch×2inch，4inch×4inch，6inch×6inch，8inch×8inch，10inch×10inch，12inch×12inch，500mm*500mm等（其他尺寸可定制）；（組件/模組測試儀、穩態組件太陽光模擬器）；
  3.光譜不匹配度：AM1.5G, ＜±5%, 超AA*； 
  4.輻射空間不均勻性：＜1.5%，超AA*；  
  5.時間不穩定性：＜0.5%，超AA*； 
  6.輻射強度：輻射強度可調±30%；
  7.連續照射模式；

  8.光強實時反饋控制單元；

  目前此款設備已被中國計量科學研究院和日本AIST所采用，作為標準計量測試設備。

 主要特點： 

  1.匹配標準：ASTM 超3*標準、IEC 超3*標準、JIS 超3*標準；
  2.可以任意調節照射方向以及燈的位置；
  3.用戶可自己設定任意光照強度；
  4.燈使用壽命計時；

另外，我公司提供專業太陽能測試設備制造商為客戶提供全套專業的設備：
  1.太陽能電池光譜響應測試系統、IPCE測試系統、量子效率測試系統；
  2.太陽能電池測量系統（光譜響應測試系統,IPCE測試系統,量子效率測試系統，I-V曲線測量系統），太陽能電池測試儀；
  3.太陽能電池I-V曲線測量系統；
  4.I-V 數據采集系統；
  5.大面積太陽能模擬器/太陽光模擬器/全光譜太陽光模擬器；
  6.太陽能電池分選機；
  7.太陽能電池I-V測試儀；
  8.分光輻射度計，
  9.參考電池/標準電池，
  10.太陽能模擬器均勻性圖像分析系統；
  11.有機太陽能電池載流子遷移率測量系統；
  12.鈣鈦礦太陽能電池載流子遷移率測量系統；
  13.太陽能電池少數載流子測量系統；